׳¦׳׳˜

הידעת? הדפדפן שהינך גולש ממנו אינו עדכני

הדפדפן שהינך גולש ממנו אינו עדכני ויתכן שהאתר אינו יעבוד בצורה טובה. הדפדפנים הנתמכים באתר הם:

לחץ על האיקונים למעבר לדף ההורדה של הדפדפן

סגירת חלונית אל תציג בשנית

בסגירת החלונית תועבר/י לאתר מותאם לדפדפן ויתכן כי חלק מהאתר לא יעבוד בצורה מיטבית

מיקרוסקופים אלקטרוניים

הדפסה דוא

 

מיקרוסקופים אלקטרוניים בשימוש המעבד

 

1. מיקרוסקופ אלקטרוני סורק חדשני מסוג   Ultra-High Resolution Maia 3 FE-SEM של חברת Tescanעם מערכת מיקרואנליזה משודרגת (EDX) 

 Aztec של חברת  Oxford.

 

גלאים:

  • 3 גלאים לאלקטרונים משניים: In-Chamber SE; In-Beam SE; Beam Deceleration mode SE
  • 3 גלאים לאלקטרונים חוזרים: Mid-angle BSE ; In-Chamber BSE; In-Beam BSE;
  • גלאי לאלקטרונים חודרים STEM ((Bright Field; Dark Field; High Angle Dark Field )  
  • גלאי קרני –X  למיקרואנליזה  X-MAXactive area 80mm2 127 eV resolution  ישנה אפשרות לליתוגרפיה, ל- Peltier stage ולניקוי דוגמה - XEI plasma decontaminator.


DSC 4404

 Ultra-High Resolution Maia 3 FE-SEM

 

2. מיקרוסקופ  אלקטרוני סורק מסוג-JSM-6510LV של חברת Jeol, עם מערכת מיקרואנליזה (Noran System 7 (EDX של חברת  Thermo Fisher Scientific.

גלאים:

  • גלאי לאלקטרונים משניים (SE)
  • גלאים לאלקטרונים משניים לשימוש בוואקום נמוך (LVSE) לבדיקת דוגמאות אינן מוליכות
  • גלאים לאלקטרונים חוזרים (BSE)
  •  גלאי קרני X- למיקרואנליזה  Ultra Dry 10mm2 active area 127 eV resolution

JEOL JSM-6510LV

Jeol JSM-6510LV  

 

 

עדכון אחרון ב-שני, 26 פברואר 2018 12:30
 

 

ברוכים הבאים לאתר אוניברסיטת אריאל בשומרון לכל צורכי הנגישות יש ללחוץ על כפתור הנגישות למעלה