׳¦׳׳˜

הידעת? הדפדפן שהינך גולש ממנו אינו עדכני

הדפדפן שהינך גולש ממנו אינו עדכני ויתכן שהאתר אינו יעבוד בצורה טובה. הדפדפנים הנתמכים באתר הם:

לחץ על האיקונים למעבר לדף ההורדה של הדפדפן

סגירת חלונית אל תציג בשנית

בסגירת החלונית תועבר/י לאתר מותאם לדפדפן ויתכן כי חלק מהאתר לא יעבוד בצורה מיטבית

X-ray Diffraction

הדפסה דוא

אוניברסיטת אריאל מאפשרת שירות במכשיר XRD) X-ray diffractometer )  מסוג X'pert Pro תוצרת חברת PANalytical (הולנד) המיועד לחקר מגוון רב של חומרים כגון: חומרים מתכתיים, חומרים קרמיים, חומרים תרופתיים, חומרים אופטיים, ננו חומרים ועוד.

באמצעות המכשיר ניתן לבצע אנליזת פאזות של חומרים אבקתיים, חומרים מסיביים ושכבות דקות. הדרישה היחידה לביצוע האנליזה היא היותו של החומר במצב גבישי (קריסטליני).

המכשיר פועל על עיקרון יצירת קרני X בעזרת שפורפרת היוצרת קרינה Cu Kα באורך גל (λ = 0.154nm)  וקביעת חומרים גבישיים על בסיס הקרניים החוזרות. גוף המכשיר הינו אטום העשוי פלדה עם דלתות זכוכית האקוויוולנטיות ל-1 מ"מ עופרת ולכן איננו מסוכן לכלל המשתמשים בו.

מכשיר XRD מצוייד בתוכנה  X'Pert HighScore Plus software package, version 2.2e (2.2.5), from PANalytical B.V.

בנוסף, התוכנה יודעת לחשב כמות מוערכת של מרכיבי החומר.

זיהוי חומרים ואנליזה מתבססים על נתונים מקטלוג Powder Diffraction File PDF-2 Release 2009.

לצורך קבלת מידע יותר מעמיק ניתן להיעזר בשיטה שפותחה על ידי Hugo M. Rietveld ובה מקבלים נתונים מדוייקים יותר, כגון:  אנליזת פאזות כמותית, מיקרו מעוות, גודל גבישונים, גודל תא, מבנה אטומי של מולק' ועוד.

בדיקה של אבקות ומוצקים מתבצעת בשיטת Bragg–Brentano בטווח זויות 2-158 מעלות

בדיקת שכבות דקות מתבצעת בשיטת GIXRD.

 

 

XRD

 

                                     A PANalytical X"Pert Pro X-ray diffractometer       

 

 program XRD

                                             תוכנה X'Pert HighScore Plus software 

 

 

 

אנו נמצאים בקמפוס העליון בניין 2 חדר 1

אחראי ומפעיל: ד"ר אלכסיי קוסנקו

טלפון: 03-9066217 או במייל kossenkoa@ariel.ac.il

 

למחירון, לחץ כאן

עדכון אחרון ב-חמישי, 02 אוקטובר 2014 15:05
 

 

ברוכים הבאים לאתר אוניברסיטת אריאל בשומרון לכל צורכי הנגישות יש ללחוץ על כפתור הנגישות למעלה