XRD - X-ray diffractometer

הידעת? הדפדפן שהינך גולש ממנו אינו עדכני

הדפדפן שהינך גולש ממנו אינו עדכני ויתכן שהאתר אינו יעבוד בצורה טובה. הדפדפנים הנתמכים באתר הם:

לחץ על האיקונים למעבר לדף ההורדה של הדפדפן

סגירת חלונית אל תציג בשנית

בסגירת החלונית תועבר/י לאתר מותאם לדפדפן ויתכן כי חלק מהאתר לא יעבוד בצורה מיטבית

XRD - X-ray diffractometer

הדפסה דוא

אוניברסיטת אריאל מאפשרת שירות במכשיר XRD) X-ray diffractometer ) מסוג X'pert Pro תוצרת חברת PANalytical (הולנד).

באמצעות המכשיר ניתן לבצע אנליזת פאזות של:

•     חומרים גבישים

•     חומרים אבקתיים

•     ציפויים

השיטה מבוססת על עיקרון של עקיפת קרני ה-X בגביש באמצעות מדידת מרחקים בין השכבות של הסריג האטומי ניתן לחשב את ערכי הגביש.
עוצמת הסיגנל כפונקציה של זווית ההקרנה מועברת לתוכנת ניתוח הפולטת פיקים שונים הן מבחינת הגובה והן מבחינת המיקומים.

חוקר מאמת את הפלט המתקבל מול מסד נתונים קיים ומזהה את הרכב הפאזות בחומר.

המכשיר בודק אבקות וגבישים בשיטת Bragg–Brentano בטווח זווית  2-158 מעלות ובדיקת שכבות דקות  מתבצעת בשיטת GIXRD.

אנליזת XRD מיועדת לחקר חומרים למגוונים, כגון:

•     חומרים מתכתיים

•     חומרים קרמיים

•     חומרים תרופתיים

•     פולימרים

•     בדיקות מינרלים בקרקע

•     ננו חומרים

 

 

DSC 4260

 

                                     A PANalytical X"Pert Pro X-ray diffractometer       

 

 program XRD

                                             תוכנה X'Pert HighScore Plus software 

 

 

 

אנו נמצאים בקמפוס העליון בניין 2 חדר 1

אחראי ומפעיל: ד"ר אלכסיי קוסנקו

טלפון: 03-9066217 או 03-9066688
מייל:scienceq@ariel.ac.il  || kossenkoa@ariel.ac.il

 

למחירון, לחץ כאן

עדכון אחרון ב-שני, 22 ינואר 2018 17:35
 

 

ברוכים הבאים לאתר אוניברסיטת אריאל בשומרון לכל צורכי הנגישות יש ללחוץ על כפתור הנגישות למעלה