XRD – X-ray diffractometer

אוניברסיטת אריאל מאפשרת שירות במכשירי XRD) X-ray diffractometer ) משני סוגים:

1)  X'pert Pro תוצרת חברת PANalytical (הולנד).

    (טווח זווית מ-2 עד 158 מעלות)

    גלאי D0.

SmartLab SE  (2 תוצרת חברת Rigaku (יפן).

    (טווח זווית מ- 10 עד 160 מעלות)

    גלאי D, 1D0.


באמצעות המכשירים ניתן לבצע אנליזת פאזות של:

•     חומרים גבישים

•     חומרים אבקתיים

•     ציפויים

השיטה מבוססת על עיקרון של עקיפת קרני ה-X בגביש באמצעות מדידת מרחקים בין השכבות של הסריג האטומי ניתן לחשב את ערכי הגביש.
עוצמת הסיגנל כפונקציה של זווית ההקרנה מועברת לתוכנת ניתוח הפולטת פיקים שונים הן מבחינת הגובה והן מבחינת המיקומים.

חוקר מאמת את הפלט המתקבל מול מסד נתונים קיים ומזהה את הרכב הפאזות בחומר.

המכשירים בודק אבקות וגבישים בשיטת Bragg–Brentano בטווח זווית  2-158 או  10-160 מעלות ובדיקת שכבות דקות  מתבצעת בשיטת GIXRD.

בדיקות צפיפות, עובי וחִספּוּס שכבות דקות  מתבצעת בשיטת X-Ray Reflectivity.

בדיקות חומרים בשיטת Rocking Curve.


אנליזת XRD מיועדת לחקר חומרים מגוונים, כגון:

•     חומרים מתכתיים

•     חומרים קרמיים

•     חומרים תרופתיים

•     פולימרים

•     בדיקות מינרלים בקרקע

•     ננו חומרים


 תוכנות: X'Pert HighScore Plus software, Rigaku SmartLab Studio II


אנו נמצאים בקמפוס העליון בניין 2 חדר 1

אחראי ומפעיל: ד"ר אלכסיי קוסנקו

טלפון: 03-9066217 או 03-9066688
מייל:scienceq@ariel.ac.il  || kossenkoa@ariel.ac.il

למחירון, לחץ כאן

A PANalytical X"Pert Pro X-ray diffractometer

A PANalytical X"Pert Pro X-ray diffractometer

תוכנה X'Pert HighScore Plus software

         תוכנה X'Pert HighScore Plus software