XRD – X-ray diffractometer

אוניברסיטת אריאל מאפשרת שירות במכשיר XRD) X-ray diffractometer ) מסוג X'pert Pro תוצרת חברת PANalytical (הולנד).

באמצעות המכשיר ניתן לבצע אנליזת פאזות של:

•     חומרים גבישים

•     חומרים אבקתיים

•     ציפויים

השיטה מבוססת על עיקרון של עקיפת קרני ה-X בגביש באמצעות מדידת מרחקים בין השכבות של הסריג האטומי ניתן לחשב את ערכי הגביש.
עוצמת הסיגנל כפונקציה של זווית ההקרנה מועברת לתוכנת ניתוח הפולטת פיקים שונים הן מבחינת הגובה והן מבחינת המיקומים.

חוקר מאמת את הפלט המתקבל מול מסד נתונים קיים ומזהה את הרכב הפאזות בחומר.

המכשיר בודק אבקות וגבישים בשיטת Bragg–Brentano בטווח זווית  2-158 מעלות ובדיקת שכבות דקות  מתבצעת בשיטת GIXRD.

אנליזת XRD מיועדת לחקר חומרים למגוונים, כגון:

•     חומרים מתכתיים

•     חומרים קרמיים

•     חומרים תרופתיים

•     פולימרים

•     בדיקות מינרלים בקרקע

•     ננו חומרים

   

 תוכנה X'Pert HighScore Plus software

אנו נמצאים בקמפוס העליון בניין 2 חדר 1

אחראי ומפעיל: ד"ר אלכסיי קוסנקו

טלפון: 03-9066217 או 03-9066688
מייל:scienceq@ariel.ac.il  || kossenkoa@ariel.ac.il

למחירון, לחץ כאן

A PANalytical X"Pert Pro X-ray diffractometer

A PANalytical X"Pert Pro X-ray diffractometer

תוכנה X'Pert HighScore Plus software

         תוכנה X'Pert HighScore Plus software